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SIL
计算SIL的适宜水平 对于一般的显示器,单个产品SIL适宜程度的计算是结合企业质量,工程,第三方共同努力的检验。这些步骤包括:故障率预测,FMEDA、失效路径的调查、第三方Technics的检验。
第一步:故障率预测
这一步是所有产品SIL计算的基础。在产品内的各个部件的故障率有助于整体产品故障率。
1. BOM的单个组件的故障率是基于组件和电路的偏置计算。
2. 产品故障率是所有组件故障率的总和。
第二步:故障模式影响和诊断分析(FMEDA)
失效模式影响和诊断分析(FMEDA)是一种技术,评估和量化产品的自诊断能力。
列出了每个组件的故障模式和故障率。故障模式被确定为安全(产品能够检测到的火灾/气体)或危险的(产品无法检测到的火灾/气体)。
每一个安全和危险的故障模式被确定为可检测或未检测到的产品的诊断。
其结果是所有组件的列表,其失效模式分类为安全检测(SD),未检测到的安全模式(SU),检测到的危险模式(DD)或未被检测到的危险(DU),和使用故障率预测结果的各分类(LSD,LSU,LDD,LDU)的故障率。
第三步:失败的路径研究
故障模式影响和诊断分析步骤期间,已知的故障模式未分类的使用实际的产品调查。这需要短路和打开元件引线,并确定故障分类。SD、SU、DD、DU。
第四步:计算 SFF, SIL and PFD
产品的SIL等级是最后从安全失效分数(SFF)和要求的故障概率(PFD)决定的。

使用以下公式:
SFF = (lSD + lSU + lDD) / (lSD + lSU + lDD + lDU) PFD = (lDU)(检验间隔)/2 + (lDD)(停机时间或维修时间)
然后从B型设备按IEC 61508表下面的安全失效分数确定SIL等级:
Safe Failure Fraction 安全失效分数硬件故障公差*
0 1 2
< 60% Not allowed SIL 1 SIL 2
60% - < 90% SIL 1 SIL 2 SIL 3
90% - < 99% SIL 2 SIL 3 SIL 4
? 90% SIL 3 SIL 4 SIL 4
*一个硬件错误N的公差意味着n + 1个故障可能会导致安全功能的损失。
第五步:第三方审查
上述步骤的所有结果被转送至第三方审查和验证。
定义
MTBF =客户会要求的MTBF(平均故障间隔时间多次)产品的价值. 这是由单元失效率减去逆计算MTTR(平均修复时间,一般显示器产品为4小时)。若MTTR相比于整体产品设备非常小时,可以被放弃。
MTBF = 1 /故障率
降低风险的因素的一个表达式是…
RRF = 现有的或固有的风险)/(可容忍的或可接受的风险)
要求故障概率(PFD) =在潜在的危险情况的下,SIF未能预期执行安全功能的可能性。这也被称为危险的失败。
需求失败的平均概率(PFDavg) =当SIF定期检查和测试时,一个有用的数值。公式PFDavg取决于系统架构
指定的检验测试间隔最简单的公式是...
PFDavg = (lDU)(检验测试间隔)/2

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